Elm
EN AZ
Yeni cihaz əyrilmiş güzgülərin tam formasını onlara toxunmadan 2 nanometr dəqiqliklə ölçür

Yeni cihaz əyrilmiş güzgülərin tam formasını onlara toxunmadan 2 nanometr dəqiqliklə ölçür

phys.org 29.09.2026 22:40 6 baxış
AIST‑də tədqiqatçılar toxunmadan əyrilmiş optik elementlərin tam səth profilini yüksək dəqiqliklə ölçən cihaz hazırladılar.