Yeni cihaz əyrilmiş güzgülərin tam formasını onlara toxunmadan 2 nanometr dəqiqliklə ölçür
phys.org
29.09.2026 22:40
50 baxış
AIST‑də tədqiqatçılar toxunmadan əyrilmiş optik elementlərin tam səth profilini yüksək dəqiqliklə ölçən cihaz hazırladılar.
Əlaqəli xəbərlər
Qırmızı sincabların yaxşı yaşadığı Britaniya adası
bbc.co.uk · 20.10
Şimali İrlandiyanın iqlim dəyişikliyini həll etmək üçün 'cəsarət və liderlik'ə ehtiyacı var
bbc.co.uk · 20.10
Süni ictimai rəy sorğusu: AI şəxsiyyətləri həmişə real seçicilər kimi fikirlərini dəyişmir
phys.org · 20.10
NZ-nin iqlimi “kəşf edilməmiş ərazidə”, qabaqda daha çox ekstremal hava hadisələri var
phys.org · 20.10
Gənc şeritli bass 2026-cı ildə Virginian sularında orta bolluğu qoruyur
phys.org · 20.10
Sual-Cavab: Texnologiya necə qida mənşəli patogenləri və epidemiyanı izləməyə kömək edir?
phys.org · 20.10